晶圓表面用二氧化硅

晶圓表面用二氧化硅

納米二氧化硅™尺寸標(biāo)準(zhǔn)

MSP Corporation 的 NanoSilica™Size Standards 是 SiO2顆粒的濃縮水懸浮液，具有高度均勻的尺寸分布。

這些粒徑標(biāo)準(zhǔn)目前提供的標(biāo)稱尺寸范圍為 15 至 200 nm，非常適合為下一代晶圓和光掩模檢測(cè)系統(tǒng)生產(chǎn)高質(zhì)量校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。

雖然 MSP 23000NPT 系列和 2300G3 系列粒子沉積系統(tǒng)為表面缺陷校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的生產(chǎn)提供了最佳結(jié)果，但較舊的 MSP 系統(tǒng)和其他制造商的系統(tǒng)也適用于納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)。

特征

+ 極其均勻的尺寸分布

我們的納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)采用獲得**的 SiO2合成工藝開發(fā)，其尺寸分布比市售的 PSL 球更窄。

+ 使用 SI 可追溯性測(cè)量的峰直徑

允許產(chǎn)量提高和計(jì)量小組根據(jù) ISO 9000 標(biāo)準(zhǔn)和 SEMI 指南建立其檢查和缺陷審查方法的可追溯性。

+ 受到強(qiáng)烈 DUV 輻射時(shí)穩(wěn)定

MSP 的 SiO2顆粒在暴露于 DUV 輻射時(shí)不會(huì)降解，這與 PSL 球體不同，PSL 球體的尺寸會(huì)減小。

+ 易于使用

NanoSilica 顆粒懸浮液在滴管瓶中提供，以便在您的應(yīng)用中混合具有適當(dāng)數(shù)量濃度的懸浮液時(shí)使用方便。

+ 高粒子濃度

一些應(yīng)用需要高濃度。 MSP 的顆粒濃度是業(yè)內(nèi)最高的之一。

+ 輕松辨別模態(tài)（峰值）直徑

+ 避免由于平均和峰值直徑值之間的差異而導(dǎo)致的差異

+ 制備適用于效率相對(duì)較高或較低的氣溶膠產(chǎn)生裝置的稀釋懸浮液

+ 為***的檢測(cè)工具創(chuàng)建持久的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

+ 消耗更少的材料；存錢

+ 隨附校準(zhǔn)和可追溯性證書以及帶有處理和處置說(shuō)明的安全數(shù)據(jù)表 (SDS)

1給定目錄號(hào)的認(rèn)證直徑將在規(guī)定范圍內(nèi)提供。

2相對(duì)半高寬（半高全寬）； FWHM 除以模態(tài)直徑。

規(guī)格

NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液，微粒子尺寸從18nm到200nm都可選擇，是市面上***、高質(zhì)量的校正標(biāo)準(zhǔn)，適用于最新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)。

***的半導(dǎo)體檢查技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到小于30nm，以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即可做晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)的校正，但新一代的檢查系統(tǒng)使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷，當(dāng)UV光重復(fù)打在PSL球形化粒子上，將影響到PSL球形化粒子的質(zhì)量; 由于SiO2微粒子在DUV及EUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量，因此SiO2微粒子是最佳的替代產(chǎn)品。

NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是使用有**的SiO2合成技術(shù)，可以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布，從目前最小的微粒子尺寸來(lái)看，NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是尺寸最均勻，適合做尺寸大小峰值的量測(cè)的工具。

NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是MSP Corporation透過National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標(biāo)準(zhǔn)單位的產(chǎn)品，加上ISO 9000與SEMI的認(rèn)證，讓良率提升及表面檢查和缺陷評(píng)估有所依據(jù)。

NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液使用15-mL滴定，讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標(biāo)皆標(biāo)示產(chǎn)品編號(hào)、生產(chǎn)編號(hào)、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限，而且提供NIST-traceable證明書與Material Safety Data Sheet (MSDS)說(shuō)明書。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
•尺寸大小分布均勻
•NIST traceability 的尺寸大小
•DUV及EUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量
•高濃縮度微粒子懸浮溶液

產(chǎn)品效益
•易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類分析儀器偵測(cè)與量測(cè)尺寸峰值
•可避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性
•適合氣膠產(chǎn)生設(shè)備使用
•提供耐久校正標(biāo)準(zhǔn)給*進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備使用
•省錢而且耗用量少